正置(明暗场)芯片检查显微镜|8XB-PC
技术参数
1.镜筒：三目，30°倾斜
2.高眼点目镜：WF10X/Φ25mm
3.无限远长工作距离明暗场物镜：
   5×/0.1B.D/W.D.29.4mm
   10×/0.25B.D/W.D.16mm
   20×/0.40B.D/W.D.10.6mm
   40×/0.60B.D/W.D.5.4mm（选购）
   50×/0.55B.D/W.D.5.1mm
   100×（干）/0.80B.D/W.D.3mm（选购）
4.转换器：五孔
5.工作台尺寸：310mm*350mm，移动范围：250mm×250mm
6.调焦：粗微动同轴，范围36mm，微动0.002mm
7.光源：垂直照明，带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/100W，AC85V-230V亮度可调节
8.DIC装置：偏光装置、明暗场转换

正置(明暗场)芯片检查显微镜|8XB-PC
产品特点
   芯片检查显微镜广泛的应用于透明，半透明或不透明物质，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
芯片检查显微镜
选购件
50X无限远长工作距离物镜，摄像头，适配镜，图像采集卡、数码相机等