省空间 
采用我社开发的压电控制器和笔记本电脑，大大节省了空间。 
测定速度的提升 
改善了图像数据的读取以及解析算法，加快了测定的速度。 
可自动校准 
配上3轴压电受台(选件)，可实现干涉仪条纹设为0条纹的校准作业的自动化，可提高作业效率（球面测定时）。 
解析软件的高机能化 
更新为以自动校准机能为中心的解析软件，可对应更精细的需求。 
数码变焦机能
用数码变焦可在1倍到3倍以每0.1的倍率设定，微小机件的确认也变得简单了。 
2D、3D彩色图像显示
通过2D彩图的显示可确认波面相位以及横切面的形状。3D图像更能直观地显示波面的相位。 
合格与否的判定机能
设定规格值，在生产线上可简单地进行合格与否的判定。而且可设定与客户定义像差相对应的规格值。 
可定制画面
具有保存、读取画面排版状态的机能，可设定适合使用场所以及产品的排版。

主要用途： 评价镜片、平面光学部品研磨面的面精度 评价镜片、平面光学部品透过波面的定量 评价反射镜、硬盘、晶片、磁头等金属面的面精度评价  规格 解析方式 条纹扫描方式 测定条纹条件 正弦波状强度分布的干涉条纹  （不可进行多重干涉的干涉条纹解析） 干涉条纹显示图像尺寸 640×470（像素） 再现性 PV值：0.01λ（2δ）以下、  RMS值：0.003λ（2δ）以下 解析机能 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3以及Zernike系数的解析与显示 合格与否的判定 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3等的规格值设定与合格与否的显示 3轴压电受台冲程（选件） 粗动：±3mm（XYZ的各轴）  微动：12μm（XYZ的各轴） 使用环境 水平无震动的场所  （地面震动±0.8/S2）以下  温度：23± 3℃  湿度：60%以下，无凝露 ·因测定时的设置环境不同，会发生机械性能不能充分发挥的时候，敬请原谅！ ·本装置不保证Traceability体系中的绝对精度。   KIF-FU60/FU100系统构成

KIF-FSA解析显示画面   主画面  解析结果以2维图表以及3维鸟瞰图表示。在2维图表中可显示横切面的形状。而且各像差以及Zernike系数将以数值形式显示。如有设定规格值时，将会显 示柱型统计图以及合格与否（○/×）。可在菜单中进行各种设定、数据的保存以及读取。 <解析结果显示技能> · P-V、RMS、Pwr · 赛德尔像差Tilt、Focus、像差AS、慧差Coma、球差Sa3 · 3维鸟瞰图、2维彩图 · 横切面侧面像（X、Y方向、PV、RMS） · 合格与否判定结果 <文件输入输出机能> · 工作参数的保存与读取 · 条纹数据的保存与读取 · 测定区域的保存和读取 · 画面版面的保存与读取 · 主窗口打印 测定结果保存 测定结果可作为条纹数据保存于文档中。且左右画面可作为文本形式复制至剪贴板，可粘贴到表计算软件。       测量区域设定画面 可同时设定四角形、圆形、多角形的多个测量区域。在不进行特殊形状设定时，亦可令程序按百分比自动圈划区域。 <测量区域机能> · 特殊形状区域设定（四角形、圆形、多角形、自动圈划区域） · 自动圈划设定 工作参数设定画面 可设定产品名等的属性，波长选择、Fitting次数选择、像差清除设定、表示单位选择、对Zernike系数的offset的设定、规格值设定、用户定义像差设定等的设定。 <工作参数设定机能> · 产品名、单位名、注释 · Fitting次数（3/4/9/16/25/36） · 像差清除（像差指定/Zernike系数指定） · 显示单位（λ、μm、nm、条纹） · 对Zernike系数的offset设定 · 规格值（指定各像差以及用户定义式）