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订货号: | TA-01274-00 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
开发编号: | N |
市场价: | ¥ |
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*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
透过波面测定干涉仪KIF-PU是解析光学部品的透过波面像差的干涉仪系统。特别在光读取头用的生产线中,是最适合评价对物透镜以及准直透镜的透过波面的系统。
无需选择操作员即可进行稳定的测定 配备了标准的压电驱动受台的自动调整构造以及专用软件,降低了调整误差所导致的测定值的变动。在高NA的光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。 可测定405nm带镜片·650nm帯镜片 标准装载了405nm光源与658nm光源的两种波长,可通过简单的操作切换测定波长,可对任一方的光学部品进行评价。 可进行直线/圆偏光切换 测定具有在读取头光学部品中使用的偏光依存性的被检物时,需要进行直线/圆偏光切换。最适合进行塑料以及晶体等具有复屈折特性的部品的透过波面测定。 小型·高刚性 小型且高刚性的本体具有防振功能且充分考虑到生产现场的使用环境,所以不占空间即可进行迅速的品质检查。 可进行合否判定 专用的软件,具有根据任意设定的规格值进行合否判定的机能,所以在生产线中可简单地进行合否的判定。 主要用途:
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本装置不保证为 Traceability 体系中的绝对精度 |
透过测定时的示例 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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主画面 解析结果以2维图表以及3维鸟瞰图表示。在3维图表中可显示横切面的形状。而且各像差以及 Zernike 系数将以数值形式显示。如有设定规格值时,将会显示柱型统计图以及合否 (○/×)。 再者,可在菜单中进行各种设定、数据的保存以及读取。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
<解析结果显示机能> | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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<文件输入输出机能>
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定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
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TA-01274-00 | KIF-PU透过波面测定干涉仪 | /() |