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USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
订货号： TA-01271-00
产地： 日本
品牌：
开发编号： N
市场价：￥
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*此价格为参考价格，具体价格以订单合同为准
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产品描述：

 

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪

 

 

概要 
　　USPM-RUⅢ是在原USPM-RU仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
特征 
消除背面反射光 
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。 
可测定微小领域的反射率 
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。 
测定时间短　 
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。 
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能 
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。 
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能 
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
主要用途
  • 各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
  • 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
与原产品的主要区别
  • 采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
  • 受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
  • 电源规格可对应AC100V以及AC220V。 (请您在下订单时注明电源规格。)
  • 优化了软件的功能。(可显示10次测定的功能等)
  • XY受台移动方向增加了比例尺。
  • 更换卤灯时不需调整灯的位置。
  • ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。

 

 

主要规格

测定波长 380nm～780nm
测定方法 与参照试料的比较测定
被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同
被测物W.D. 10.1mm(使用10×对物镜时)
3.1mm(使用20×对物镜时)
被测物的曲率半径 -1R～-∞、+1R～∞
被测物的测定范围 约φ60μm(使用10×对物镜时)
约φ30μm(使用20×对物镜时)
被测物再现性 ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时） 
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时)
表示精度 1nm
测定时间 数秒～十数秒(因取样时间各异）
光源规格 卤灯 12V100W
装置重量 本体：约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源：约3kg、控制器：约8kg
装置尺寸 本体：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm
电源规格 光源用电源：100V (2.8A)/220V　AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V　AC
使用环境 水平且无振动的场所 
温度：23±5℃ 
湿度：60％以下、无结露
软件 ■测定参数设定
  • 保存环境文档、可读取
■分光反射率测定
  • 设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据)
  • 取样时间设定
  • 判定是否合格
  • 波长方向刻度
■物体颜色测定
  • ＸＹ色度图、L*a*b*色度图
  • 标准光源设定(A、B、C、D65)
  • 视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定
  • 镀膜材料折射率
*作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。




品牌简介

日本安天世日本安天世
日本安天世成立于1971年，是设计、生产和销售液晶彩色滤光片、光催化空气净化器、大气离子设备、视听设备的制造商。业务包括贴片安装、组装电脑板、电子零件高精度加工、模具…日本安天世成立于1971年，是设计、生产和销售液晶彩色滤光片、光催化空气净化器、大气离子设备、视听设备的制造商。业务包括贴片安装、组装电脑板、电子零件高精度加工、模具设计开发、软件开发。
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