产品描述:
OPTOTOP是一套快捷高效的,非接触式光学表面测量系统。它能在纳米,微米,及大尺寸下进行光学形貌及几何测量。
优势 :
1.方便舒适的操作
2. 快速的数据提取
3. 多样性测量方法,完全的交互式操作
4. 2D形态下的微粗糙度值(表面粗糙及缺陷)
5. 特定区域内,具方向性的粗糙度值(组织,纹理分析)
6.2D,3D以及深度剖面的形貌描述
应用范围:
1.光滑面,粗糙面,曲面的表面粗糙度分析
2.大尺寸计算,微几何形态描述,及平坦度控制
3.表面控制,例如:滚筒模
4.应用领域包括:研发,品质生产控制,验收检验,及损坏分析
技术规格:
传感器:彩色共焦 最大测量频率:100HZ/300HZ (1kHZ)
测量范围Z:300mm/1mm/2mm 最大行程XY:60mmⅹ60mm
解析度Z:12nm/25nm/75nm 速率:0.1 bis 10mm/s
侧向解析度:1.55mm/2mm/4mm 平台尺寸:165ⅹ165mm
测量长度:11mm/12.7mm/16.4mm 电脑,软件,显示器:LCD 17〞
购买流程:
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