您好,欢迎来到泰亚赛福!
泰亚赛福
产品

首页 > 工业检测 >  无损检测设备 > 涂层/涂装检测设备 > 涂层测厚仪 > CMI760测厚仪


CMI760测厚仪
CMI760测厚仪
订货号:MM-65540-00

400-000-1836
分机:810/811 / 815
产地:英国
品牌:
开发编号: N
* 此产品根据配置不同价格不同
* 此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准
  • 产品描述
  • 技术参数
  • 技术文档
  • 相关产品
  • 明细价格
  • 购买流程
产品描述:

The CMI760 and CMI760N packages measures surface copper thickness applications to serve the quality control needs of the Printed Circuit Board industry.
The CMI760 and CMI760N packages measures surface copper thickness applications to serve the quality control needs of the Printed Circuit Board industry.  The package consists of a CPU unit, a probe and NIST traceable calibration standards.  The probe utilizes Oxford Instruments proprietary SRP-4 microresistance technology featuring user-replaceable measurement tips for the standard (CMI760, SRP-4) or narrow (CMI760N, SRP-4N) varieties.   
 


品牌简介

英国Oxford公司(牛津仪器)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美…英国Oxford公司(牛津仪器)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器的业务主要分为纳米分析设备、工业分析设备和服务三大部分,Oxford精益求精不断进行技术改进和创新,为客户提供高品质的产品和服务,以满足日益增长的市场需求。

您最近浏览的商品