CMI243涂层测厚仪 | |
订货号:MM-07034-00 |
021-54248686 分机:228 |
产地:美国 | |
品牌: | |
开发编号: N | |
* 此产品根据配置不同价格不同 * 此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
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CMI243涂层测厚仪简介:
CMI243涂层测厚仪是一款灵便易用的仪器,专为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。
采用基于相位电涡流技术,CMI243涂层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。
CMI243涂层测厚仪测量原理:
一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的"升离效应"导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。而牛津仪器将最新的基于相位电涡流技术应用到CMI243镀层测厚仪,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用,将底材效应最小化,使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外,镀层测厚仪一般不需要在铁质底材上进行校准。
CMI243涂层测厚仪的特点:
--便携式、无损测量各种金属镀层
--精度高、稳定性好
--测量精度可与X射线测厚仪媲美
--可测量各种微型部件(φ2.5mm)
--232接口,可连接打印机或电脑
定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
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MM-07034-00 | CMI243涂层测厚仪 | /() |