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订货号: | MM-63669-00 |
产地: | 日本 |
品牌: | |
开发编号: | N |
市场价: | ¥ |
*此产品根据配置不同价格不同 |
*此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
相控阵技术生成超声波束,这些超声波束的参数,如:角度、聚焦范围和焦点尺寸等,可以通过软件进行控制。而且,声束可在一个很长的阵列上被多路切换。这些特点为相控阵技术增加了一系列新的应用功能。例如,在扫查工件时,可以不移动探头本身而快速改变声束角度。相控阵还可以代替多个探头以及机械部分。以可以变换角度的声束检测部件,可以充分发挥检测性能、优化信噪比,而不用考虑缺陷方向。
相控阵的优势 相控阵技术具有以下优势: 声束角度、聚焦范围和焦点尺寸的软件控制。
仅用一个小型电子控制的多晶片探头即可实现多角度扫查。
对复杂几何形状材料的检测具有更大的灵活性。
无活动部件的高速扫查。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
相控阵软件 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
全功能A扫描、B扫描和C扫描
以OmniScan UT的功能为基础建立的OmniScan® PA可提供全功能A扫描、B扫描和C扫描显示。 全功能扇形扫查 实时体积校正显示
高于20 Hz的刷新率(可高达40 Hz)
高级实时数据处理
采集数据时,实时数据插值改进了缺陷的空间显示。
用户可选的高、低通滤波器提高了A扫描和成像的质量。
操作者使用投影功能,可以同时看到垂直显示的A扫描和扇形扫描图像。
校准过程和参数
使用"下一步"和"返回"按钮,可以根据向导菜单的指导逐步进行操作。 组向导和聚焦法则向导 使用组向导,用户可输入所有探头、零件和声束的参数,并一步生成所有聚焦法则,而非每改变一个参数便计算一次聚焦法则。
逐步向导可防止用户遗漏对某一参数的修改。
在线帮助提供参数设置的一般信息。
多组选项
现在可以用两种配置管理一个以上的探头:不同的夹角、不同的扫查方式、不同的检测区域以及其它一些参数。 多组检测可采用的配置 A 使用一个单独的64个或更多晶片的相控阵探头,创建2个不同的组: 45º线性扫查,通过底面反射来覆盖零件的上部
60º线性扫查,覆盖零件的下部
B 使用一个单独的64晶片或128晶片的相控阵探头,创建2个不同的组:
低增益下的0º线性扫查
高增益下的0º线性扫查
C 使用一个单独的64晶片或128晶片的相控阵探头,创建3个不同的组:
45º线性扫查,通过底面反射来覆盖零件的上部
60º线性扫查,覆盖零件的下部
从35º到70º的扇形扫查,可增加检出率
D 使用两个16晶片或64晶片的相控阵探头,创建2个不同的组:
从35º到70º的扇形扫查,以通过底面反射从工件的左侧进行检测
从35º到70º的扇形扫查,以通过底面反射从工件的右侧进行检测 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
相控阵模块技术规格 (适用于OMNI-M-PA16128) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
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MM-63669-00 | OMNISCAN MX PA相控阵超声波探伤仪 | /() |