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METROTOM测量技术的革命

添加时间：2010-10-26 编辑：X061 阅读：次

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  • 产品名称：METROTOM测量技术的革命
  • 产品定货号：MK-00176-00
  • 产地：德国
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METROTOM测量技术的革命

Metrotomography，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合，现在可以进行高精度和无损测量。断层扫描分析如同在工件内部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查，如同测量评估、备用工程应用或几何比较一样。
METROTOM
尺寸
测量范围
ø*Z（mm）
ø300*300
L = 测量长度以mm为单位
 

产品名称产品简介产品编号
METROTOM测量技术的革命Metrotomography，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合，现在可以进行高精度和无损测量。 MK-00176-00



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