泰亚赛福 —— 世界领先的检测仪器集成供应商 
添加时间：2010-1-27 编辑：X022 阅读：次
|
二次元粗さ | |
|
測定規格 |
JIS（2001/94/82）、DIN、ISO、ASME |
|
測定範囲 |
Z：600μm X：100mm |
|
拡大倍率 |
Z：50～500,000 X：1～5,000 |
|
記録 |
自由レイアウトで記録出来ます。 |
|
触針 |
R2μm、0.7mN |
|
三次元粗さ | |
|
測定範囲 |
Z：600μm X：100mm Y：50mm |
|
サンプリング最小間隔 |
X、Yとも1μm |
|
記録 |
カラー記録（鳥瞰図、微分濃淡図等）、粒子解析、三次元粗さパラメータ解析多数 |
|
触針 |
R2μm 0.7mN |
|
輪郭形状 | |
|
解析項目 |
要素/スカラ量/非球面/ボールねじ/マスタ比較 |
|
測定範囲 |
Z：50mm X：100mm |
|
触針 |
R25μm 30mN以下 |
| 产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
|---|---|---|
| SEF3500K表面粗糙度轮廓测量仪 | 二次元表面粗さ測定機と三次元表面粗さ測定機、それに輪郭形状測定機を一体化したリーズナブルな測定機です。 | MC-06347-00 |
您当前的位置：
加入对比
