ハイレベルな表面粗さ測定機に、三次元表面粗さ測定機能を付加したもので、対象表面を「線と面」で深く評価できます。
二次元粗さ
多様なパラメータに対応
縦軸と横軸の自動校正ができます。
自動で測定から印刷まで実行
三次元粗さ
データ採取と解析を並列処理できます。
三次元粗さ形状を鳥瞰図や濃淡図で記録できます。
最大1億ポイントのサンプリングで、高分解能で測定
二次元粗さ
測定規格 JIS(2001/94/82)、DIN、ISO、ASME
測定範囲 Z:600μm X:100mm
測定倍率 縦:50~500,000 横:1~5,000
記録 自由レイアウトで記録できます。
三次元粗さ
測定範囲 Z:600μm X:100mm Y:50mm
サンプリング最小間隔 X,Yとも1μm
記録 カラー記録(鳥瞰図、微分濃淡図等)、粒子解析、三次元粗さパラメータ解析多数
产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
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SE3500K表面粗糙度仪 | ハイレベルな表面粗さ測定機に、三次元表面粗さ測定機能を付加したもので、対象表面を「線と面」で深く評価できます | MC-06337-00 |