-TESA专利电流量测系统--«capa µ system»结合独特的圆锥体结构设计而成的TESA IMICRO电子三点式通孔分厘卡。
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-TESA专利电流量测系统--«capa µ system»结合独特的圆锥体结构设计而成的TESA IMICRO电子三点式通孔分厘卡。
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—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于固定具有V型面的测量头
—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于
—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于固定具有V型面的测量头
—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于固定具有V型面的测量头
—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于固定具有V型面的测量头
—用于螺纹中径检测
—测砧具有可调夹持器用于固定具有V型面的测量头
—用精细螺纹调整和锁定
测砧和测杆的球形测量面用于测量工作凹表面，例如滚珠、轴承、沟槽和管壁面测量。
测砧和测杆的球形测量面用于测量工作凹表面，例如滚珠、轴承、沟槽和管壁面测量。
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