Si(Li)塞贝克制冷谱仪

　　塞贝克制冷Si（Li）谱仪为专业X射线谱仪，其独特的塞贝克效应制冷方式使用于液氮制冷方法无法或者禁止使用的领域，全套塞贝克制冷Si（Li）谱仪包括：探头、塞贝克制冷器、多道分析器、塞贝克冷却器封的冷却水用自密封装置、电脑、MCA仿真软件。

特征

技术参数

　□ 能量范围：1~60keV
　□ 标准探头有效面积：20~100mm2
　□ 8小时连续工作的时间不稳定性：<0.05%
　□ 输入计数率（1/s）:1.5×105
　□ 积分非线性：<0.05%
　□ 峰/本底：≥1000
　□ 探测器尺寸： Ø90×120mm
　□ 多道分析器尺寸：350×200×120mm
　□ 水冷却装置尺寸：350×200×120mm
　□ 探测器重量：2.0kg
　□ 多道分析器重量：4.0kg
　□ 水冷却装置重量：6.0kg
　□ 功率：100W
　□ 工作电压：220V
　□ 频率：50Hz
　□ 20mm2有效面积探头的能量分辨率
　　　■5.9keV：180
　　　■59.6keV：450