添加时间:2009-10-29 编辑:08004 阅读:次
反射测量(发射或者反射式颜色测量) |
吸光度测量 |
辐射测量 |
透射测量 |
1,000 幅全光谱/秒 |
可编程控制器 |
高分辨率应用 |
HR2000+ES Sample Spectrum |
HR平台 |
即插即用 |
包括软件和扩展服务包ASP |
物理参数 | |
尺寸 |
148.6 mm x 104.8 mm x 45.1 mm |
重量 |
570 克 |
探测器 | |
探测器 |
Sony ILX511B线阵硅CCD |
探测器范围 |
200-1100 nm |
像素 |
2048 像素 |
像素尺寸 |
14 μm x 200 μm |
像素阱深 |
~62,500 电子 |
灵敏度 |
75 光子/计数值 @400 nm; 41 光子/计数值@600 nm |
光学平台 | |
设计 |
f/4, 对称交叉式CT光路 |
焦距 |
101.6 mm 入射和出射焦距 |
入口孔径 |
10 µm 宽度狭缝 |
光栅 |
HC-1 提供 200-1100 nm 测量范围 |
探测器聚焦透镜 |
L2 |
OFLV 滤光片 |
OFLV 200-1100 nm |
紫外增强窗 |
UV2 |
光纤接口 |
SMA 905 连接 0.22 数值孔径光纤 |
光谱仪 | |
波长范围 |
200-1100 nm (取决于光栅) |
分辨率 |
~0.035-6.8 nm FWHM |
信噪比 |
250:1 (全信号) |
A/D 数位 |
14 位 |
暗噪声 |
12 RMS 计数值 |
动态范围 |
2 x 10^8 (系统); 1300:1 单次测量 |
积分时间 |
1 ms 到 65 s (20 s 典型最大值) |
杂散光 |
<0.05% @ 600 nm; <0.10% @ 435 nm |
校正线性 |
>99.8% |
电子 | |
功耗 |
220 mA @ 5 VDC |
数据传输率 |
全光谱数据到达内存时间, 采用USB 2.0接口是1 ms, 采用 USB 1.1 接口是15 ms |
输入输出接口 |
是, 10 个数字可编程GPIOs 接口 |
模拟通道 |
一个13-位 模拟输入;一个9-位模拟输出 |
自动清零 |
无 |
扩展接口盒 |
是, HR4-BREAKOUT |
触发模式 |
4种模式 |
选通功能 |
是 |
门控延迟功能 |
无 |
连接器 |
30针连接器 |
计算机 | |
操作系统 |
当使用USB端口与桌面电脑或笔记本电脑连接时,Windows 98/ME/2000/XP, Mac OS X 和Linux,当使用串口与桌面电脑或笔记本电脑连接时,32-BITWindows操作系统 |
计算机接口 |
USB 2.0 @ 480 Mbps; RS-232 (双线) @ 115.2 K 波特 |
外围接口 |
SPI (3线); I2C内部集成电路 |
产品名称 | 产品简介 | 产品编号 |
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HR2000+ES高分辨率光谱仪 | HR2000+ES高分辨率光谱仪 我们下一代高分辨率光谱仪,是一种新的光学和电子学器件的组合 适用领域 反射测量(发射或者反射式颜色测量) 吸光度测量 辐射测量 透射测量 | MB-00481-00 |