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4200-SCS型半导体特性分析系统

添加时间:2009-11-3 编辑:X059 阅读:

  • 产品名称:4200-SCS型半导体特性分析系统
  • 产品定货号:ME-00692-00
  • 产地:美国
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主要特点及优点
直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
硬件由Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
支持先进的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。

应用
半导体器件:
片上参数测试
晶圆级可靠性
封装器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
高K栅电荷俘获
易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件:
半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发:
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学
 

产品名称产品简介产品编号
4200-SCS型半导体特性分析系统它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。ME-00692-00

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