手持式X荧光光谱仪

添加时间：2010-3-1 编辑：X061 阅读：次

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产品名称：手持式X荧光光谱仪
产品定货号：MC-06993-00

产地：美国
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分析速度快，精度高，实现了现场分析地质化学成份，如矿石表面，岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样，可直接评估矿石级别，立时获得分析结果，不仅大大提高了生产力和生产进度，而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
SDD探测器的计数率和分辨率，远高于SI-PIN检测技术，分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低，结合FP校准模式，可检测所有矿石样品。

测量元素范围：

Mg, Al, Si, P, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ta, W, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ru, Rh等

金属矿：钾矿、钙矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、铁矿、钴矿、镍矿、铜矿、锌矿、锆矿、铌矿、钼矿、锡矿、锑矿、铅矿、铪矿、钽矿、铼矿、铋矿等；

非金属矿：磷矿、硫矿、砷矿、硒矿、碘矿等；

贵重金属：金矿、铂矿、银矿、钌矿、铑矿、钯矿等。

还可分析沉淀物、填料、精矿、尾矿、矿渣中残存的矿石元素及碎片；土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层；废水、废油等等的固体、液体物质等；

对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。

重量	1.5kg
尺寸	30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源	X射线管，Ag靶，40kV
检测器	XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps
冷却系统	Peltier半导体冷却系统
电源	交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时
工作条件	温度：-20℃～+55℃　　湿度：0～95%
电池充电器	交流充电器：110/220V，50/60Hz
计算机/显示器	240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输	USB，无线蓝牙，SD卡
数据存储	主机：512MB 存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器	热表面适配器，可测量500℃高温样品
安全	密码保护，设有多级安全锁
运输箱	减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言	包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期获得认证	整机2年 CE、TUV、IECEE、ISO9001