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VIA-SC-UVW纹痕分析对比系统

添加时间:2010-1-7 编辑:读取中…… 阅读:

  • 产品名称:VIA-SC-UVW纹痕分析对比系统
  • 产品定货号:MC-05403-00
  • 产地:中国
  • 推荐:
VIA-SC-UVW纹痕分析对比系统
 
系统配置了300万像素的数字摄像头和专业的纹痕分析对比软件,连接电脑,可对显微图像进行对比、测量、鉴别。
纹痕分析对比软件UV-W是一套图像处理及测量的应用软件包,主要通过对显微图像的处理及测量来鉴别纹痕。广泛用于公、检、法等部门。
产品配置:
1、三目体视显微镜PXSVIA-E
2、高清晰度接口MCL
3、300万像素数字专业摄像头(手动、自动白平衡,彩色、黑白可调)
4、纹痕分析对比软件(详情请看下载中心)
4、联想商用电脑、激光打印机
5、移动工作台 环型照明
技术参数:
1、三目镜筒:倾斜45°可旋转360°瞳距55-75mm 视度±5°
2、广角目镜: 10X/23 mm
3、物镜:0.65X-6X,变倍比:1:9.2
4、总放大倍数:60X
5、调焦:粗动立座式,升降范围90mm
6、工作距离:100mm  
7、光源:卤素灯  上下光源可调 12/20W  
选购件:
2X物镜                                500元
20X目镜                              500元
二维工作台                          1000元
偏振片                                 1200元                             
环形光源                              240元                           
LED光源(亮度可调)            800元
 

产品名称产品简介产品编号
VIA-SC-UVW纹痕分析对比系统MC-05403-00



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