Hawk非接触测量系统

添加时间：2009-11-15 编辑：X044 阅读：次

    Hawk非接触测量系统提供所有材料复杂制造组件的高精度、可复验测量，并可提供符合一系列测量要求的模块化灵活解决方案。
    为实现精确测量，清晰、高分辨率图像十分重要。使用高对比度、高分辨率光学图像，增强表面清晰度，即可实现对复杂组件的快速、简便以及精确的测量。关键部件的测量可以轻松解决。
技术参数 
Hawk1/Hawk2/Hawk3/Hawk4: 
150mm x 150mm测量平台 
分辨率:1微米 
准确度:5微米 
重复性:3微米 
人工重复性:6微米 
Hawk5/Hawk6/Hawk7/Hawk8/Hawk9: 
200mm x 150mm测量平台 
分辨率:0.5微米 
准确度:2微米 
重复性:2微米 
人工重复性:3微米 
Hawk10: 
300mm x 225mm测量平台 
分辨率:2微米 
准确度:30微米 
重复性:10微米 
人工重复性:10微米 
Hawk11: 
400mmn x 300mm测量平台 
分辨率:2微米 
准确度:30微米 
重复性:10微米 
人工重复性:20微米 
主要特点 
Vision 的HAWK测量系统的突出优势 
 • 整体机身为一体浇铸，最新设计采用承重应力分析的结果以确保机身稳固坚实，从而保证得到最佳的测量结果的准确性及重复性。 
 • 专利的人性化设计使操作者无疲劳感，舒适高效，大大提高工作效率。 
 • 灵活的模块化设计，多种配置选择，从完整的手动两维测量到全自动的三维测量系统，可满足各种不同应用的需要。 
 • 多样化的照明系统：两点聚焦光，环形无影光，同轴光及底部透射照明，解决各种不同类型样本的显微观察及测量。 
 • 专业的QC200二维测量软件及QC5000三维测量软件功能强大，容易操作. 
 • Z向测量行程达230mm, 放大倍率10X至1000X任意可选。 
 • 高分辨率的测量平台，X，Y， Z均为0.5μm (200mm x 150mm测量台) 
高精度：2μm 高重复性：2μm 
 • 全范围长工作距离高数值孔径物镜, 保证显微影像的高清晰度和高分辨率。如放大500X的工作距离可高达10.6mm. 
 • 全部为光导纤维输出的“冷光”照明，使仪器本身及被测样本由照明而导致的热效应减至最低水平。 
 • 独特的专利照明塔箱具照明遥控装置，使其控制照明操作自如。 
 • 全自动型(HAWK 系统9)具Z向自动聚焦及自动寻边功能，对于需批量化及重复测量的样本极为适合。 
 • 业界唯一的兼备显微光学品质及视频自动化的非接触式测量系统。 
 • 专利的光学品质极适于：复杂的三维部件，透明及色泽不清的样本，低对比色样本 （如同色，黑色）。 
 • 整体结构为最新潮的时尚化设计，外形精美，为唯一获得工艺设计奖项的光学仪器。 
 • 高性能价格比，可根据预算资金及相关应用量入为出，灵活配置，根据未来功能的扩展也可随时灵活升级。 
 • 专业化的售后服务保证仪器始终保持最佳的工作状态，定期维护保养，及时提供检修。 
光学特点: 
    双光瞳单象光路,采用专利的Dynascopic扩瞳技术使其能无限修正光学系统,并提供最佳的人机工程设计,使其操作时舒适，高效，长时间也无疲劳感 
    能永久接合视频输出系统，高分辨率的视频/数码成象可满足于全自动测量及图象记录的需要 
    观察头体内预置十字定位尺，其形状可依用户所需设计 
光学放大倍率：
    标准配置为20倍线性放大，高数值孔径物镜可快捷更换 
    可选配放大倍率为10X，50X，100X，200X，400X，500X，1000X， 
照明方式：
标配150W顶部六点或十点无影环型光，采用光导纤维引导，可提供冷光照明 
标配75W底部光纤透射冷光照明，适合于轮廓及中空孔的测量需要 
可选2x30W两点聚焦式照明，适合于平整且非反射物的测量需要 
可选75W顶部光纤透射物照明，适合于高倍率下对平整且反射物或盲孔的测量需要 
测量平台可选：
手动或机动差异聚焦行Z轴的测量 
基于视频成像的全自动X和Y轴向的轮廓测量 
全自动Z轴的自动聚焦测量 
测量平台范围（手动或机动可选） 
数据输出 
接QC-200系列全自动读数器: 
可显示测量数据及相关图形 
多语言选择 
可外接打印机 
二维或三维测量 
可编辑程序 
可建立原点及储存 
接QC-5000几何测量软件 
显示全部几何图形及数据 
多语言选择 
手动或机动(CNC) 
预装(NLEC)非线性错误纠正功能 
二维或三维测量 
可编辑程序 
可连接CAD软件包 
自我帮助功能 
视频轮廓测量 
自动Z轴聚焦