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MX61半导体检查显微镜

添加时间:2009-10-12 编辑:读取中…… 阅读:

  • 产品名称:MX61半导体检查显微镜
  • 产品定货号:MC-19089-00
  • 产地:日本
  • 推荐:
MX61200mm半导体检查显微镜
 
产品概述:
● 大型载物台搭载:可用于400*300mm液晶基板,300mm晶圆全面检查(MX61L)
● 采用高NA的透射光聚光镜,图象更锐利
● 多种观察方式,多种照明方式,多种附件以满足不同应用要求
● 透射和反射照明可同时使用,极大提高液晶基板观察效果
 
技术特点: 
缩短检查用时,提高检查效率
自动聚焦附件 MX-AF
透射光检查照明 MX-TILLA/MX-TILLB
MX专用的自动聚焦附件可配合所有的反射光照明观察方式,甚至包括暗视场和微分干涉相衬观察。实现快速和精确的自动对焦,甚至观察方式转换时也能实时准确的找到焦面。
两种照明装置可选,通用型及高数值孔径型。为FPD,MASK板检查提供合适的照明,并且可配备起偏镜,实现投射光简易偏光观察。
高反差,更高分辨率,更高倍率检查
用于光刻胶残留检查的荧光观察方式
共聚焦附件 U-CFU
荧光分光镜模块
共聚焦光学系统可以提供更高的反差和分辨率,分辨率可达0.18μm,并可对多层线条的器件分层对焦,获得高分辨率,高反差的共焦图像。
备有U.B.G等多种荧光方式可选,用于光颗胶残留以及OLED检查。
方便的通讯接口用于显微镜倍率和孔径光阑的控制和参数获得 RS232C
用于晶圆以及器件,甚至焊脚的内部检查 近红外线观察附件
MX61/MX61L标配包括一个RS232C接口,使得用PC控制显微镜电动部分成为可能,并且可以实现使工艺线上的几台显微镜都在同样的设定状态下工作。
包括专门的红外物镜等附件,对从可见光到近红外波段光线的像差做矫正,用于IC深层或内部检查,可实现对WAFER BUMP的全面检查。
 

产品名称产品简介产品编号
MX61半导体检查显微镜MC-19089-00



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