Hawk-i台式XRF分析仪

添加时间：2009-9-23 编辑：泰亚赛福阅读：次

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产品名称：Hawk-i台式XRF分析仪
产品定货号：MC-28023-00

产地：美国
推荐：

l 可应用在非均匀单一样本上局部和准确位置的精确测试的微焦点XRF分析仪

l 准确测量无铅焊料、电子元器件、电路板、贵重金属、珠宝、艺术品、矿物质和合金的化学组成成分；可专用于RoHS/WEEE规定的六种有害物质检测。

Hawk-i系列台式分析仪可以快速而准确的实现从磷到铀（P到U）元素的分析与识别，该仪器使用直径从0.2mm到6mm的校准X射线束。它具备微小的光束尺寸，可移动的X-Y坐标台，强大的光学CCD镜头和激光调焦管使整个仪器具有了空前强大的分析能力。Hawk- i 系列仪器拥有极高的统计精确度，能快速测试小元件、固体、液体和粉末，可进行完全无需标准样的定量分析。

具体特点：

² 检测光点大小在0.2mm-6mm之间可调

² 数位彩色成像，且放大倍率能达到68倍

² X-Y两轴“Point与Shoot”定位测量模式

² 大型样品室适用于各种尺寸及形状的样品

Innov-X Hawk-i台式XRF聚焦分析仪

采用了最新的X射线探测器和分析技术的。凭借着领先的测试速度与准确性，Innov-X Hawk-i 台式分析仪的应用非常广泛，包括ROHS/WEEE/无铅电子元件的测试、珠宝设计、贵重金属、多种合金分析以及法医鉴定。Hawk-i 分析仪微小的X光束尺寸，可移动的X-Y坐标台与先进的光学技术使其应用效果非常理想。

对于铅-锡焊料的性能数据 70/30 重复性测试，测试时间：30s
Sn(%)	Pb(%)	Sn(%)	Pb(%)		Sn	Pb
30.49	69.71	30.54	69.15	确定值	30.2	69.7
30.77	69.48	30.51	69.69	平均值	30.26	69.79
30.42	69.77	30.69	69.57	Std.Dev.	0.457298	0.3645778
29.57	70.44	29.45	70.00	RSD(%)	1.51%	0.52%
29.95	70.14	30.18	69.95

应用说明：

ROHS/WEEE/无铅的电子元件
使用Hawk-i 系列分析仪可监测：
*塑胶中的有毒金属：Pb，Hg，Cd，Br，Cr以及更多。
*完全符合ROHS/WEEE具体条款要求
*检测无铅的电子元件：
*可作为新无铅焊料QC。
*电子元件废料中的金属/合金测定。
*PCB板，连接器，电线和废料上特殊点的分析。

珠宝
应用Hawk-i 台式分析仪可以分析黄金，白金，银，铂钯合金。

贵重金属
Hawk-i 系列分析仪可提供：
*青铜，黄铜，钢及其它合金的元素分析。
*生产过程中的无损检测。

法医鉴定
在犯罪研究中，Hawk-i 系列分析仪有以下用途：
*证据分析：涂料、玻璃碎片、墨水、爆炸物的副产物。
*土壤、子弹、GSR中的金属元素，Pb、Ba、Sb、合金。

Hawk-i 系列仪器的规格
元素分析范围：磷到铀（P到U）

X光源系统：

空气冷却的微聚焦X射线管

50KV，功率可至50W，钼阳极（同时有其它阳极可用）

X光束尺寸从0.2mm-6mm可调

可满足特殊应用的X光过滤器

检测系统

高纯度的硅PIN二极管检测器

微几何学可以检查不同尺寸与形状的样品