2010/10/14 17:27:32 阅读:944次
Cement-3000水泥分析仪
工作原理:
X光管产生的X射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子,当外层电子补充内层电子时,会放出该原子所固有能量的X射线,称之为特征X射线(X荧光)。各种元素的原子受激发后,在退激过程中放出的特征X射线能量各不相同,例如铁的特征X射线(FeKα)能量为6.4KeV,铜的特征X射线(CuKα)能量为8.0KeV等等,依次可进行定性分析。在一定条件下,特征X射线的强度与元素含量(品位)成正比,依此可进行定量分析。
对于半无限大空间饱和厚度,并且表面均匀的样品,当二次荧光可以忽略时,目标元素的特征X射线强度(IK)可以用下式表示:
IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)
式中:K为与探测器的激发效率有关的常数;I0为入射射线强度;Ck 为目标元素的含量;μ0为入射射线在样品中的质量吸收系数;μK 为特征X射线在样品中的质量吸收系数;φ为入射射线与样品表面间的夹角;ψ为特征射线与样品表面间的夹角。
产品配置:
采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用特制的X光管
采用专用的X射线高压发生器
采用RS232串口通讯系统
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块
配备品牌电脑
配备品牌打印机
配备常用的制样工具
配备专用的压片机
配备专用的真空系统
配备专用的测试标样
特点:
主机采用数字化面板设计,管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示,可以根据分析元素种类不同,软件自动调整参数。
采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,Be(铍)窗厚200μm,靶材Rh(铑靶)。真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围。
采用进口高能量分辨率的电致冷Si-PIN半导体探测器,无需液氮制冷,使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)。
样品种类:固体、粉末、液体均可,如压片无需添加任何试剂。
腔内多样品座:一次可以放置12个样品,自动控制,精确定位。
1024道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便地了解样品的组成。
可一次性实现多元素的快速、无损、准确分析。
全中文Windows应用软件,操作简单。
软件优势:WinXP界面应用软件,全中文操作系统操作。
软件数据库功能强大,谱数据显示、谱峰标记、能量定标、净强度、预置时间等。
所有参数通过软件调节,数码管自动显示,无需手动调节面板。
谱处理、扣除背景、元素识别、剥离重叠谱自动进行。
谱峰重叠时,软件可以解谱。
软件自动稳谱,消除环境变化影响。
技术指标:
分析元素范围:Mg-U(主要是:Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等);
元素含量分析范围:10ppm -99.9%(采用1024道多道分析器,分析精度更高);
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术;
测量范围:1-30KeV;
重复性:<0.1%;
稳定性:<0.01%;
管压:0kV-30kV(采用 特制的X射线管);
管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
辐射剂量:<25μsv/h;
检测时间: <200S;
工作环境温度:温度0-40℃;
测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短。
应用领域:
适用于水泥、矿山、选矿、冶炼等企业在生产过程中对产品质量进行监测;
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产品编号 | 产品名称 | 产品简介 | 产品价格 |
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MZ-00108-00 | Cement-3000水泥分析仪 | 0¥ |
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