2010/9/20 16:37:16 阅读:502次
GT2100A数字集成电路测试仪
GT2100A数字集成电路多参数测试仪,利用独创的多值参数比较法,可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。数字集成电路多参数测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用,也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。
一、系统的主要特点
1.测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试。
2.对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试。 3.真值表功能测试的同时,完成“三态”(高阻状态)漏电流测试。 4.对IC输入电流、功耗电流测试。 5.输入漏电流及交叉漏电流测试。 6.测试过程无须人工干预。 7.用户可以自选测试模式,使用方便、操作简洁。 8.可自动识别74系列中的CMOS器件。 9.可以查找未知IC的型号。 二、产品主要性能 在功能测试的基础上
1. 测试器件的输入端注入电流。
2.测试器件的输入端交叉漏电流。 3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。 4. 测试器件的输出负载电流。 5. 测试器件的功耗电流。 6.查找未知芯片型号。 7. 可以单次测试,也可以循环测试. 8.可自动识别74系列中的CMOS器件(如:74C、74HC、74HCT等)。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时,仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字(此时被测器件电源为TTL电源)。 三、多值测试参数: 1.8种可选择的测试电源。
2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。 3. 多种测试电压比较值。 4. 功耗测试。 以上参数的不同组合构成不同的测试模式,其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 四、测试模式:
1.模式O:全组合参数测试。
2.模式1-C:操作与模式O相同,但各有其不同的测试参数数值。 3.模式D:任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。 4.模式E:自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。 5.模式F:自编程测试。 五、测试范围及测试品种: 28Pin 1. 54系列;4500系列;
2. RAM 256K bit 3.74系列;40000系列; 4. EPROM 64K bit 5. 4000系列;C00系列。 6.光耦 |
产品编号 | 产品名称 | 产品简介 | 产品价格 |
---|---|---|---|
ME-06309-00 | GT2100A数字集成电路测试仪 | 0¥ |
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