ICT33C+数/模集成电路测试仪

ICT33C+数/模集成电路测试仪具有以下主要用途：维修各类电子产品，判断其集成电路故障。破译被抹去型号集成电路的真实型号。烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。开发各类智能电子产品，调试程序。检验新购器件的质量。

1、系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：全塑结构机箱。

2、技术规格：
（1）电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2）整机功耗：15VA。
（3）测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4）编程电压：12.5V，21V。
（5）最大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6）型号输入位数：3—6位。
（7）适用温度：0—40℃。
（8）测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。
（9）输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10）输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11）输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12）输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。